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高性能X射線熒光測(cè)試儀，涂層測(cè)厚儀檢定規(guī)程，配有真空室，涂層測(cè)厚儀 fischer，適用于材料無(wú)損分析

特點(diǎn)

• 通用型高級(jí)儀器，涂層測(cè)膜儀，可滿足各種測(cè)量需要
• 測(cè)量艙可以抽真空，phynix涂層測(cè)厚儀，并可以對(duì)自 Z = 11（Na）起的輕元素進(jìn)行分析
• 精確的、可編程的 XYZ 工作臺(tái)用于自動(dòng)測(cè)量
• 攝像頭用于樣品精確定位以及在細(xì)小部位上進(jìn)行測(cè)量

典型應(yīng)用領(lǐng)域

• 輕元素的測(cè)量分析
• 薄鍍層測(cè)量和痕量分析
• 通用材料分析及鑒定
• 非破壞性寶玉石分析
• 光伏產(chǎn)業(yè)